跳線的質(zhì)量、可靠性和性能——行業(yè)規(guī)范的影響和跳線性能的物理參數(shù)

　　內(nèi)容提要
　　通過(guò)選擇最佳的元件、采用最好的設(shè)備與程序進(jìn)行終接與拋光來(lái)保證光纖轉(zhuǎn)接線的質(zhì)量、可靠性和
性能。這些元件和程序必須保證轉(zhuǎn)接線滿足或超過(guò)所有相關(guān)行業(yè)規(guī)范的要求。本文描述了適用行業(yè)規(guī)范
中的標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)性，以及物理參數(shù)的重要性和物理參數(shù)與轉(zhuǎn)接線性能的關(guān)系。
　　介紹
　　光纖轉(zhuǎn)接線是任何光纖網(wǎng)絡(luò)中最簡(jiǎn)單的元件之一，由一條光纖及光纖兩端的接頭組成。盡管轉(zhuǎn)接線
極其簡(jiǎn)單，但是對(duì)網(wǎng)絡(luò)的整體性能卻有非常大的影響。任何網(wǎng)絡(luò)中的大多數(shù)問(wèn)題發(fā)生在物理層，并且主
要與轉(zhuǎn)接線質(zhì)量、可靠性和性能有關(guān)。因此，使用更可靠的轉(zhuǎn)接線將減少代價(jià)昂貴的網(wǎng)絡(luò)停機(jī)時(shí)間。
　　網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)人員更喜歡使用久經(jīng)證明具有長(zhǎng)期可靠性能的元件。但是，因?yàn)楣饫w網(wǎng)絡(luò)是一種相對(duì)較新
的技術(shù)，很多元件還沒(méi)有特別長(zhǎng)期的數(shù)據(jù)可供分析。因此，設(shè)計(jì)人員必須依靠元件制造商或供應(yīng)商的測(cè)
試，這些測(cè)試可以模擬歷史情況并保證網(wǎng)絡(luò)在整個(gè)使用期限內(nèi)的質(zhì)量和可靠性。本文描述了質(zhì)量、可靠
性和性能的重要性以及它們與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)與制造方法的關(guān)系。還使用“完美轉(zhuǎn)接線”和拋光觀察作為理解
轉(zhuǎn)接線原理的工具，研究了轉(zhuǎn)接線的性能。
　　質(zhì)量
　　有行業(yè)規(guī)范來(lái)管理轉(zhuǎn)接線的質(zhì)量。最常見(jiàn)的兩個(gè)規(guī)范是 EIA/TIA-568-B.31) 和 Telcordia GR-326-
CORE2)。568-B.3 針對(duì)商業(yè)性企業(yè)建筑而設(shè)計(jì)，包括辦公室和校園環(huán)境，在這些環(huán)境中，即可以部署單
模式網(wǎng)絡(luò)，也可以部署多模式網(wǎng)絡(luò)。GR-326-CORE 是 Telcordia 一般要求 (General Requirements) 的
一部分，與《通信法 (1996)》(Telecommunications Act of 1996) 一致。它針對(duì)服務(wù)供應(yīng)商市場(chǎng)，在
電信和有線電視等長(zhǎng)途高速應(yīng)用中占據(jù)了主導(dǎo)地位。在此市場(chǎng)中要求采用單模式，因此該規(guī)范沒(méi)有針對(duì)
多模式轉(zhuǎn)接線的規(guī)定。
　　每一種規(guī)范詳細(xì)說(shuō)明了一系列的環(huán)境和機(jī)械測(cè)試。在 GR-326-CORE 和 568-B.3 中有重疊的測(cè)試類(lèi)
型。幾乎 568-B.3 中的所有測(cè)試在 GR-326-CORE 中均有對(duì)應(yīng)的測(cè)試，這些測(cè)試構(gòu)成 GR-326 的主要部
分，稱(chēng)為“服務(wù)壽命”測(cè)試。“服務(wù)壽命”測(cè)試的功能是模擬接頭在其整個(gè)使用壽命期間可能經(jīng)受的應(yīng)
力。GR-326-CORE 還包括一組在 568-B.3 中沒(méi)有對(duì)應(yīng)項(xiàng)的附加測(cè)試。這些測(cè)試稱(chēng)為“可靠性測(cè)試”，其
目的是確定出在服務(wù)環(huán)境中接頭設(shè)計(jì)和材料方面的可能短缺。隨后進(jìn)行服務(wù)壽命測(cè)試，這要求按特定的
順序?qū)φ麄€(gè)樣本群進(jìn)行每一頂測(cè)試。另一方面，可提供新的樣本群以便進(jìn)行可靠性測(cè)試，正如在 568-B.
3 中進(jìn)行的每一頂測(cè)試一樣。
　　這些規(guī)范中的測(cè)試在生產(chǎn)中并不是每一項(xiàng)均進(jìn)行的。這些測(cè)試通常幾年定期測(cè)試一次以確保元件和
制造程序可以生產(chǎn)出適當(dāng)質(zhì)量級(jí)別的轉(zhuǎn)接線。
　　環(huán)境測(cè)試
　　兩種測(cè)試都包含成套環(huán)境測(cè)試，每套測(cè)試均指出接頭在很長(zhǎng)時(shí)期內(nèi)必須經(jīng)歷的特定溫度和條件。因
為這些是服務(wù)壽命測(cè)試，GR-326-CORE 要求按一定的順序進(jìn)行測(cè)試。
　　進(jìn)行這些測(cè)試并不是確保轉(zhuǎn)接線能夠承受長(zhǎng)時(shí)間的 85°C 高溫，或高達(dá) 125°C 的溫度波動(dòng)，其目
的在于模擬轉(zhuǎn)接線在各種環(huán)境中的老化現(xiàn)象。通過(guò)將接頭曝露于過(guò)高溫度下，測(cè)試會(huì)使已終接的接頭的
所有不同材料產(chǎn)生膨脹與收縮。環(huán)氧樹(shù)脂、金屬、陶瓷、玻璃，在某些情況下還有聚合物將會(huì)在套圈后
面的整體接合處產(chǎn)生橫斷。在高溫下，這些材料將以它們的固有膨脹率進(jìn)行膨脹，從而導(dǎo)致元件出現(xiàn)各
種應(yīng)變。如果測(cè)試是一個(gè)溫度波動(dòng)超過(guò)膨脹范圍的熱周期，則測(cè)試將更加極端。熱周期包括每 2 至 4
個(gè)小時(shí)改變接頭的環(huán)境溫度 125°C。在涉及的每種材料中將產(chǎn)生大的應(yīng)力和應(yīng)變。此測(cè)試也將曝露終接
中的任何缺陷。如果設(shè)計(jì)與程序不是最優(yōu)化的，這可導(dǎo)致光纖在套圈中的移動(dòng)或“活塞式運(yùn)動(dòng)”，在極
端情況下還有可能導(dǎo)致光纖破裂。
　　濕度測(cè)試將濕氣引入系統(tǒng)，并在提高的濕度下進(jìn)行，以模擬長(zhǎng)期曝露的效果。曝露于濕氣或水對(duì)玻
璃光纖的非常大的危害，較長(zhǎng)時(shí)間的曝露可導(dǎo)致光纖變脆，更容易產(chǎn)生應(yīng)變，這種情形稱(chēng)為光纖“衰
退”3)。
　　機(jī)械測(cè)試
　　這兩種主要的規(guī)范要求進(jìn)行幾種機(jī)械測(cè)試。這些測(cè)試包括：彎曲測(cè)試、扭曲測(cè)試、耐力測(cè)試、光纜
保持測(cè)試、沖擊測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、耐用性和負(fù)荷傳送測(cè)試。兩種規(guī)范的詳細(xì)要求稍有不同，但是一般程
序和概念是相同的。
　　大多數(shù)機(jī)械測(cè)試確認(rèn)跳轉(zhuǎn)線在進(jìn)行安裝與維護(hù)之后還完好無(wú)損。光纜保持 (568-B.3 的一部分) 等
測(cè)試用于確保已終接的轉(zhuǎn)跳線可以承受安裝期間的拉力。耐力測(cè)試，在 GR-326-CORE 中有對(duì)應(yīng)的測(cè)試，
類(lèi)似于光纜保持測(cè)試，同樣保證接頭鎖緊機(jī)構(gòu)的咬緊力。如果轉(zhuǎn)接線在安裝之后突然被拉動(dòng)，此測(cè)試保
證轉(zhuǎn)接線既不會(huì)破裂，也不會(huì)從適配器中脫出。對(duì)于此標(biāo)準(zhǔn)，568-B.3 有一個(gè)單獨(dú)的測(cè)試，稱(chēng)為“連接
機(jī)構(gòu)的咬緊力”。
　　試圖重現(xiàn)安裝問(wèn)題的另一項(xiàng)測(cè)試為沖擊測(cè)試。沖擊測(cè)試用于驗(yàn)證接頭在跌落時(shí)不會(huì)損壞。
　　彎曲、扭曲、振動(dòng)和負(fù)荷傳送測(cè)試都用于模擬接頭使用期限內(nèi)已終接的光纜和嚙合接頭上的應(yīng)力。
然后觀察極端物理?xiàng)l件下的接頭外觀以確保終接的質(zhì)量。在 GR-326-CORE 中，大多數(shù)接頭在結(jié)束一連串
工作的環(huán)境部分后具有“預(yù)應(yīng)力”。在機(jī)械測(cè)試期間，由于這些應(yīng)力，元件或終接程序中的缺陷通常會(huì)
曝露出來(lái)。
　　耐用性測(cè)試用于模擬接頭的反復(fù)使用。此測(cè)試涉及將接頭連續(xù)插入適配器或插孔。測(cè)試可揭示接頭
中任何可能的任何設(shè)計(jì)和材料缺陷，例如鎖緊機(jī)構(gòu)的任何部分可能因頻繁使用而造成大的應(yīng)變或應(yīng)力。
　　可靠性測(cè)試
　　這些測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)對(duì) Telcordia GR-326-CORE 是獨(dú)一無(wú)二的。測(cè)試包括曝露于各種環(huán)境之中，包含附
加環(huán)境測(cè)試和曝露測(cè)試。
　　附加環(huán)境測(cè)試包括擴(kuò)展的熱壽命測(cè)試、濕度測(cè)試和熱周期測(cè)試。這些測(cè)試，每項(xiàng)進(jìn)行 2000 小時(shí) (8
3 天)，進(jìn)一步研究接頭在各種服務(wù)環(huán)境中的壽命。測(cè)試不按順序進(jìn)行，因此沒(méi)有累積效應(yīng)。在服務(wù)壽命
環(huán)境測(cè)試中，樣本包括尾光纖組件和跳線組件，如規(guī)范的定義所述。這些擴(kuò)展的測(cè)試限于跳線組件。使
用跳線組件的基本原理是測(cè)試溫度導(dǎo)致光纜損失 (TICL)。TICL 產(chǎn)生的原因是光纜長(zhǎng)時(shí)間曝露于升高的
溫度之后又曝露于較低的溫度，從而產(chǎn)生收縮。外套和緩沖中使用的很多突出元件在曝露于升高的溫度
之后會(huì)收縮，從而導(dǎo)致玻璃纖維產(chǎn)生微小彎曲，進(jìn)而產(chǎn)生過(guò)度的損失。只使用一個(gè) 1550nm 信號(hào)源監(jiān)視
這些測(cè)試，因?yàn)槭褂幂^長(zhǎng)的波長(zhǎng)可以更輕易地觀察到微小彎曲。
　　曝露測(cè)試包括灰塵、鹽霧、空氣污染、地下水浸入以及浸水/腐蝕。
　　灰塵能夠嚴(yán)重地影響光學(xué)性能。污染端面的微粒可阻擋光信號(hào)及產(chǎn)生損失。灰塵是否找到進(jìn)入套圈
端面的途徑是一種可能性。隨著時(shí)間的推移，灰塵始終會(huì)進(jìn)入光學(xué)元件的連接處。灰塵并不是難以清
除，清潔過(guò)程需要斷開(kāi)接頭，這不僅需要停止傳輸，還需要曝露端面，從而增加了受到污染的風(fēng)險(xiǎn)。此
測(cè)試涉及密集曝露于特定大小的微粒中，以確定是否存在任何微粒進(jìn)入套圏端面的風(fēng)險(xiǎn)。
　　鹽霧 (稱(chēng)為鹽水噴霧) 用于保證靠近海邊的非密封機(jī)箱中轉(zhuǎn)接線的性能。此測(cè)試涉及將接頭長(zhǎng)時(shí)間
曝露于高濃度的 NaCl 中。在此測(cè)試后進(jìn)行光測(cè)試，之后進(jìn)行外觀檢查以確認(rèn)材料沒(méi)有腐蝕跡象。
　　空氣污染測(cè)試用于保證接頭在有高濃度污染的室外應(yīng)用中的性能和材料穩(wěn)定性。測(cè)試反復(fù)將連接的
和未連接的接頭曝露于各種氣體之中，并且不僅僅只用肉眼檢查接頭，還進(jìn)行鹽霧測(cè)試中的相同外觀檢
查。在一個(gè)小密封艙中裝入一種揮發(fā)性氣體 20 天以模擬長(zhǎng)期曝露于這些氣體中。
　　還在浸水/腐蝕測(cè)試中驗(yàn)證材料。測(cè)試沒(méi)有光學(xué)要求，但是涉及長(zhǎng)期浸入未受污染的水中。此測(cè)試與
灰塵、鹽霧和空氣污染一樣，涉及連接的和未連接的接頭。通過(guò)測(cè)量測(cè)試前后的曲率半徑并比較測(cè)量
值，檢查連接的接頭是否有套圈變形。如果套圈在此測(cè)試期間幾何形狀不穩(wěn)定，即有可能表示套圈使用
的氧化鋯材料出現(xiàn)破裂。檢查未連接的接頭是否有光纖解散，涉及檢查纖芯伸入光纖包層的距離是否不
夠遠(yuǎn)。
　　最后一項(xiàng)曝露測(cè)試是地下水浸入測(cè)試。此測(cè)試驗(yàn)證產(chǎn)品承受地下應(yīng)用的能力。水浸/腐蝕測(cè)試嚴(yán)格檢
驗(yàn)涉及的材料，并使用去離子水或蒸餾水。如果包層失效，部署在地下環(huán)境中的接頭更容易曝露于受到
污染的介質(zhì)之中。在此測(cè)試期間，接頭曝露于污水處理、農(nóng)業(yè)灌溉和其它應(yīng)用中的各種化學(xué)品之中，還
有生物介質(zhì)。這些化學(xué)品包括氨、清潔劑、氯和燃料。存在這些化學(xué)品可對(duì)接頭和適配器的材料造成損
害，從而降低光學(xué)性能。生物污染包括曝露于各種有機(jī)體之中，包括鏈球菌和大腸桿菌。存在這些細(xì)菌
可更精確的重現(xiàn)置于室外環(huán)境的情況。隨著時(shí)間的推移，這些細(xì)菌將在接頭上滋生繁衍，從而導(dǎo)致潛在
的健康危險(xiǎn)。
　　可靠性
　　轉(zhuǎn)接線的可靠性不僅僅依靠使用高質(zhì)量的元件和制造工藝與設(shè)備來(lái)保證，還需要遵循成功的質(zhì)量保
證計(jì)劃4)。盡管轉(zhuǎn)接線通常全部進(jìn)行過(guò)插入損失和返回?fù)p失測(cè)試，但是如果適用，還需要監(jiān)控很多其他
因素以確保轉(zhuǎn)接線的質(zhì)量。
　　最重要的因素之一是環(huán)氧樹(shù)脂。環(huán)氧樹(shù)脂的保存壽命和工作壽命（或稱(chēng)為“使用壽命”）有限。此
資料可以方便地從制造商處獲得。在制造期間，絕對(duì)需要檢查這兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)。過(guò)期的環(huán)氧樹(shù)脂應(yīng)被棄用。
過(guò)期后會(huì)發(fā)生影響環(huán)氧樹(shù)脂固化后性能的化學(xué)改變。過(guò)期日視存儲(chǔ)條件而定，需要進(jìn)行觀察。
　　光纖終接器中使用的大多數(shù)環(huán)氧樹(shù)脂是分成兩部分的環(huán)氧樹(shù)脂，混合在一起即開(kāi)始進(jìn)行初步的交
聯(lián)，在溫度升高時(shí)固化。開(kāi)始后，環(huán)氧樹(shù)脂的粘性開(kāi)始改變，使應(yīng)用隨著時(shí)間的推移變得更難。環(huán)氧樹(shù)
脂變得太濃，不能正確填充套圈，變得太粘，不能使光纖穿透，從而導(dǎo)致光纖破裂。
　　將兩部分的環(huán)氧樹(shù)脂混合在一起會(huì)在接頭中引入空氣，或稱(chēng)為“氣泡”。捕獲的空氣使固化的環(huán)氧
樹(shù)脂不均勻，從而導(dǎo)致機(jī)械故障的高度風(fēng)險(xiǎn)。必須最大程度地減少捕獲的空氣量（或氣泡）。
　　轉(zhuǎn)接線組件中使用的很多工具也具有定期維護(hù)和有限的工具壽命。這包括所有的脫模、分裂和卷曲
工具。大多數(shù)脫模工具，無(wú)論是手動(dòng)的還是自動(dòng)的，均可能被光纜元件損壞，特別是Aramid增強(qiáng)纖維成
員。剝皮鉗將因長(zhǎng)期使用而變鈍，從而增大了不能干凈剪切緩沖材料的可能性。這可導(dǎo)致在拔下緩沖材
料時(shí)對(duì)光纖造成過(guò)大的壓力。當(dāng)分裂工具磨損且沒(méi)有制作清晰的劃痕時(shí)，在制造期間幾乎不可能檢測(cè)
到。但是，在分裂期間結(jié)果可能是不一致的光纖破裂，進(jìn)而導(dǎo)致套圈端面光纖破裂。在此情況下，不得
不丟棄接頭。即使是卷曲工具也需要定期維護(hù)以確保有正確的力和尺寸。卷曲硬模也有累積環(huán)氧樹(shù)脂的
趨勢(shì)，影響卷曲尺寸，可能損壞接頭。
　　引入的材料和制造工藝的完整性，一旦具體化，需要遵守所有的適用指引和程序。這些材料的重要
性不僅僅在于對(duì)產(chǎn)品可靠性有重要的影響，對(duì)產(chǎn)品性能也極其重要。
性能
　　不僅僅了解涉及的參數(shù)的重要性，還了解最終產(chǎn)品的局限性，才可最好地了解轉(zhuǎn)接線的性能。為了
對(duì)轉(zhuǎn)接線的規(guī)范、技術(shù)和程序做出結(jié)論，對(duì)“完美轉(zhuǎn)接線”制定模型非常有用，如以下定義所示。
　　“完美轉(zhuǎn)接線”
　　“完美轉(zhuǎn)接線”定義為接近零插入損失的轉(zhuǎn)接線，插入損失是指連接配對(duì)的接頭時(shí)造成的相對(duì)功率
損失。“完美轉(zhuǎn)接線”的性能必須能夠與 0.02dB 級(jí)別的光纖接合損失進(jìn)行比較。“完美轉(zhuǎn)接線”的插
入損失小于 0.05dB，返回?fù)p失大于 58dB。
　　要制作“完美轉(zhuǎn)接線”，必須要有最好的光纖、套圈和測(cè)試設(shè)備。“完美轉(zhuǎn)接線”的模型將采用單
模式元件建立，因?yàn)樯婕拜^為嚴(yán)格的材料要求和規(guī)范。
　　有很多參數(shù)可以影響轉(zhuǎn)接線性能。要制作“完美轉(zhuǎn)接線”，必須控制套圈的端面幾何形狀，并采用
適當(dāng)?shù)膾伖夤に嚒６嗣孢€必須保持清潔。這使生產(chǎn)線的清潔和清潔技術(shù)非常重要。
　　通過(guò)在兩條配對(duì)轉(zhuǎn)接線的套圈內(nèi)正確對(duì)纖芯可減小損失。影響纖芯對(duì)準(zhǔn)的主要因素是套圈內(nèi)徑、套
圈同軸度和套圈外徑 (OD)。確定所有相差參數(shù)并加以控制是制作“完美轉(zhuǎn)接線”的關(guān)鍵所在。
　　最終的纖芯與套圈外徑同軸度，或接頭同軸度是所有未對(duì)準(zhǔn)的矢量和。這是定義“完美轉(zhuǎn)接線”最
重要的參數(shù)之一。“完美轉(zhuǎn)接線”必須具有亞微米級(jí)接頭同軸度。
　　圖 1 顯示了插入損失與接頭同軸度的關(guān)系。
　　圖 1 中的曲線是只考慮了接頭同軸度時(shí)計(jì)算出來(lái)的插入損失。使用元件參數(shù)估計(jì)插入損失的模擬與
測(cè)量獲得的數(shù)據(jù)匹配得非常好。
　　基準(zhǔn)光纜，特別是光纜的遠(yuǎn)端 (Ref 端)，對(duì)受測(cè)轉(zhuǎn)接線 (PUT) 上接頭的插入損失和返回?fù)p失的測(cè)
量始終至關(guān)緊要。制作“完美轉(zhuǎn)接線”的技術(shù)可用于制作基準(zhǔn)光纜。用于測(cè)試光學(xué)性能的基準(zhǔn)光纜必須
優(yōu)于受測(cè)轉(zhuǎn)接線上的接頭。基準(zhǔn)光纜和“完美轉(zhuǎn)接線”的長(zhǎng)度應(yīng)足夠長(zhǎng)，以避免纖芯中光強(qiáng)分布對(duì)插入
損失的任何影響。建議長(zhǎng)度至少為三米。
　　“完美轉(zhuǎn)接線”測(cè)試要求使用性能上至少能與“完美轉(zhuǎn)接線”比較的一條基準(zhǔn)光纜。為了保證精確
測(cè)量，在測(cè)試“完美轉(zhuǎn)接線”時(shí)需要控制其它因素。使用可重復(fù)的可靠測(cè)試儀器非常重要。普通的測(cè)試
儀器振動(dòng) 0.05dB 對(duì)測(cè)試“完美轉(zhuǎn)接線而言”太大了。使用高質(zhì)量的適配器將接頭連接到基準(zhǔn)光纜也非
常重要。測(cè)試中使用的適配器對(duì)保證一致的插入損失極其重要。適配器可導(dǎo)致插入損失 0.02dB 數(shù)量級(jí)
的振動(dòng)，這對(duì)“完美轉(zhuǎn)接線”而言太高了。已連接配對(duì)的插入損失振動(dòng)根據(jù)拆分套管相對(duì)于適配器鍵的
拆分方向進(jìn)行觀察。必須使用具有最高可靠性的適配器，且必須觀察是否有適當(dāng)?shù)那鍧嵍取?br /> 　　拋光
　　拋光是制作“完美轉(zhuǎn)接線”的極其重要的一個(gè)環(huán)節(jié)。它決定了接頭端面條件和幾何形狀。可以手動(dòng)
一次拋光一個(gè)接頭，也可以用拋光機(jī)一次拋光一個(gè)或多個(gè)接頭。
拋光接頭包括用顯微鏡可見(jiàn)的砂粒打磨端面，以除去表面過(guò)多的環(huán)氧樹(shù)脂，并消除光纖端面的擦痕，并
修整套圈和玻璃。手工和機(jī)器拋光通常都使用去離子水或蒸餾水，起到切削液的作用。
　　手動(dòng)拋光速度慢，結(jié)果因操作人員的不同而不同，而機(jī)器拋光則有利于一致性和速度。有各種各樣
的光纖拋光機(jī)可供使用。不能期望每個(gè)制造商制造的拋光機(jī)都有相同質(zhì)量的拋光效果。
　　當(dāng)前的大多數(shù)承包陶瓷套圈都是預(yù)先制成半球形的；即端面具有最適宜的曲率半徑 (ROC) 和可能的
最小頂點(diǎn)偏移 (AO)，如圖 2 所示。頂點(diǎn)偏移是指曲率半徑頂點(diǎn)的偏移情況。在這種情況下，必須用硬
度足夠的砂粒進(jìn)行拋光，確保從套圈除去環(huán)氧樹(shù)脂和光纖端面上的擦痕，但是硬度又不能太硬，以避免
顯著改變套圈的幾何形狀。如果套圈未預(yù)先制成半球形，必須通過(guò)進(jìn)一步拋光形成適當(dāng)?shù)膸缀涡螤睢?br /> 　　拋光是一個(gè)多步驟的流程。此流程通過(guò)拋光薄膜、時(shí)間和壓力來(lái)確定。流程通常由以下幾個(gè)步驟組
成：首先套圏前表面除去環(huán)氧樹(shù)脂，然后形成或保留半球形頂部，最后是拋光光纖表面。視拋光機(jī)和接
頭而定，必須對(duì)拋光壓力、時(shí)間和速度進(jìn)行最優(yōu)化。必須正確選擇每一步中使用的拋光膜和像膠墊硬度
計(jì)。
拋光后，用至少能放大 400 倍的顯微鏡檢查擦痕和損壞。“完美轉(zhuǎn)接線”在光纖端面不能有可見(jiàn)的擦
痕。擦痕數(shù)量（即光纖端面具體區(qū)域中擦痕的數(shù)量）受拋光參數(shù)和清潔度的影響。纖芯中的擦痕不僅影
響光學(xué)性能，還會(huì)損壞與其接觸的任何其它光纖端面。出于這些原因，必須最大程度地減少擦痕的數(shù)量
與大小。為了確保獲得最佳性能，不僅要嚴(yán)格遵守拋光程序，還要嚴(yán)格遵守清潔程序。如果接頭是單模
式的，用干涉計(jì)檢查端面的幾何形狀，即 ROC、AO 和球形高度 (SpH)，如圖 2 所示。表示 1 列出拋光
后端面幾何形狀的 Telcordia 值2)。在頂點(diǎn)偏移和插入損失振動(dòng)之間，在插入損失和球形高度之間存在
某種有關(guān)系，盡管并不明顯。
　　表1：拋光后端面幾何形狀的 Telcordia 標(biāo)準(zhǔn)
參   數(shù) 技 術(shù) 規(guī) 格
曲率半徑(ROC) 7 - 25mm
頂點(diǎn)偏移(AO) 0 - 50μm
球形光纖高度(SpH)
突起 ≤ 50nm
切口 ≤ 用 ROC (R 以 mm 為單位) 計(jì)算出來(lái)的值，計(jì)算公式：-
0.02R3
+1.3R2
-31R+325
　　要正確測(cè)試光學(xué)性能，應(yīng)光源和測(cè)量計(jì)與可獲得的最佳基準(zhǔn)光纜和高質(zhì)量適配器配合使用。光纖表
面經(jīng)過(guò)清潔，不含擦痕并且確認(rèn)其端面幾何形狀符合技術(shù)規(guī)格之后，插入損失和返回?fù)p失應(yīng)在預(yù)期的技
術(shù)規(guī)格以?xún)?nèi)。
對(duì)整體性能的影響
　　可用于測(cè)試“完美轉(zhuǎn)接線”的基準(zhǔn)光纜的連接端必須經(jīng)過(guò)測(cè)量以便保證接頭同軸度小于受測(cè)轉(zhuǎn)接線
并擁有完美的端面。必須用一條基準(zhǔn)光纜或主光纜進(jìn)行測(cè)量，確保插入損失小于 0.03dB，返回?fù)p失大于
58dB。如果表面形狀良好，無(wú)擦痕、坑洞或灰塵，則返回?fù)p失應(yīng)大于 58dB。注意到在適配器之間出現(xiàn)變
化，即使那些具有最佳套管的適配器也是如此。為了確保測(cè)量可重復(fù)，建立選擇可靠的適配器。
　　為了確認(rèn)插入損失測(cè)量的最終能力，用一條光纖進(jìn)行了接合測(cè)試。在分裂后，用光纖熔接機(jī)拼接光
纖。“完美轉(zhuǎn)接線”實(shí)現(xiàn)的插入損失與通過(guò)拼接測(cè)量的插入損失進(jìn)行比較。圖 3 將“完美轉(zhuǎn)接線”的插
入損失作為最終接頭同軸度的一個(gè)函數(shù)與拼接損失進(jìn)行了比較。考慮到使用最佳適配器、套管方向和接
頭加載順序的測(cè)試可重復(fù)性和變動(dòng)，可計(jì)算為 +0.02dB，在“完美轉(zhuǎn)接線”和熔接之間沒(méi)有明顯的插入
損失。
結(jié)論
通過(guò)確定和優(yōu)化對(duì)轉(zhuǎn)接線性能有影響的所有參數(shù)，有可能制作插入損失等于熔接損失 (插入損失幾
乎為零) 的“完美轉(zhuǎn)接線”。在對(duì)“完美轉(zhuǎn)接線”的性能研究中，發(fā)現(xiàn)插入損失受到適配器和拆分套管
性能的限制。使用“完美轉(zhuǎn)接線”，可以研究適配器接頭同同度和拆分套管性能，提供優(yōu)化適配器的方
法，從而產(chǎn)生“完美適配器”。
　　本研究還證明通過(guò)使產(chǎn)品符合適當(dāng)?shù)男袠I(yè)標(biāo)準(zhǔn)，遵守完美定義的工藝和維護(hù)，通過(guò)使用最高質(zhì)量的
元件，可以大量生產(chǎn)光纖轉(zhuǎn)接線，并且保證客戶(hù)在質(zhì)量、可靠性和性能方面的滿意度。
　　PANDUIT® 遵守本文指出的所有適用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和實(shí)踐方法，提供具有世界一流質(zhì)量、可靠性和性能的
光纖轉(zhuǎn)接線。
　　PANDUIT 開(kāi)發(fā)和制造光纖接頭、轉(zhuǎn)接線、光纖元件模塊、外殼和光纜管理系統(tǒng)。PANDUIT 提供接頭
和轉(zhuǎn)接線，包括 FJ® OPTI 插座模塊和插頭、SC、LC 和 ST 接頭。OPTI-CRIMP® FJ 插座模塊、SC 和 S
T 接頭還可用于預(yù)先拋光的卷曲終接。